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二氧化硅

H17503-25g

Silicon dioxide

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60676-86-0

25g

萬(wàn)佳

99.99% metals basis,粒徑:5um

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二氧化硅介紹：

【產(chǎn)品編號(hào)】H17503-25g

【CAS.編號(hào)】60676-86-0

【中文名稱(chēng)】二氧化硅

【英文名稱(chēng)】Silicon dioxide

【標(biāo)準(zhǔn)值】99.99% metals basis,粒徑:5um

【產(chǎn)品規(guī)格】25g

【主要用途】

【保存條件】室溫避光

【注意事項(xiàng)】

二氧化硅相關(guān)產(chǎn)品：

標(biāo)物編號(hào)	產(chǎn)品名稱(chēng)	CAS NO	標(biāo)準(zhǔn)值	規(guī)格	價(jià)格	庫(kù)存	有效期至
H17503	二氧化硅	60676-86-0	99.99% metals basis,粒徑:5um	100g	132	現(xiàn)貨
H17503-25g	二氧化硅	60676-86-0	99.99% metals basis,粒徑:5um	25g	52	現(xiàn)貨	——
H17189-10g	二氧化硅	60676-86-0	SP	10g	60	現(xiàn)貨	——
H17189-50g	二氧化硅	60676-86-0	SP ≥99.9%	50g	120	現(xiàn)貨	——
BW00773a-9	水中二氧化硅	——	10μg/L	100mL	160	≥5	2025-10-15
BW00773-2	水中二氧化硅	——	500μg/mL	50mL	60	≥5	——
BW00773b-9	水中二氧化硅	——	80μg/L	100mL	160	≥5	2025-10-15
BW00773-1	水中二氧化硅	——	100μg/mL	20mL	30	3	2026-03-06
BW00773-1	水中二氧化硅	——	100μg/mL	50mL	60	3	2026-06-23
BW00773-1	水中二氧化硅	——	100μg/mL	1L	900	2	2026-06-24

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GB/T 20020-2013 工業(yè)沉淀水合二氧化硅

適用范圍	適用于工業(yè)沉淀法生產(chǎn)的水合二氧化硅產(chǎn)品，涵蓋橡膠、涂料、塑料等領(lǐng)域的應(yīng)用檢測(cè)。
核心檢測(cè)方法	1. 吸油值測(cè)定（鄰苯二甲酸二丁酯法）； 2. pH值測(cè)定（水懸浮液法）； 3. 灼燒減量測(cè)定（高溫灼燒法）。
檢出限與定量限	灼燒減量檢測(cè)限為0.1%，定量限為0.5%；pH值測(cè)定精度為±0.2單位。
質(zhì)控樣品要求	需使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)GBW(E)060012進(jìn)行校準(zhǔn)，樣品需均勻且干燥后保存。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	吸油值測(cè)定需在25℃恒溫下完成，樣品與試劑混合后靜置10分鐘再讀數(shù)。
特別說(shuō)明	樣品預(yù)處理時(shí)需避免高溫長(zhǎng)時(shí)間暴露，防止灼燒減量數(shù)據(jù)偏差。

食品安全國(guó)家標(biāo)準(zhǔn) 食品添加劑二氧化硅

適用范圍	針對(duì)食品級(jí)二氧化硅的純度、重金屬殘留及干燥減量等安全指標(biāo)檢測(cè)。
核心檢測(cè)方法	1. 重金屬（以Pb計(jì)）檢測(cè)（原子吸收光譜法）； 2. 干燥減量測(cè)定（105℃恒重法）； 3. 可溶性鹽檢測(cè)（離子色譜法）。
檢出限與定量限	鉛含量檢測(cè)限為0.1 mg/kg，定量限為0.5 mg/kg；干燥減量誤差范圍≤0.5%。
質(zhì)控樣品要求	需使用空白樣品加標(biāo)回收驗(yàn)證，質(zhì)控樣需符合GB/T 27404要求。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	重金屬檢測(cè)需消解后過(guò)濾，避免懸浮顆粒干擾；干燥減量需重復(fù)稱(chēng)量至恒重。
特別說(shuō)明	檢測(cè)中需嚴(yán)格控制實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，避免樣品吸潮導(dǎo)致干燥減量結(jié)果異常。

GB/T 30449-2013 納米二氧化硅表征方法

適用范圍	用于納米級(jí)二氧化硅的粒徑分布、比表面積及表面羥基含量等物化性質(zhì)分析。
核心檢測(cè)方法	1. 動(dòng)態(tài)光散射法（DLS）測(cè)定粒徑； 2. BET氮吸附法測(cè)比表面積； 3. 熱重分析法測(cè)表面羥基含量。
檢出限與定量限	DLS檢測(cè)粒徑范圍為1-1000 nm；BET法比表面積檢測(cè)限為0.01 m2/g。
質(zhì)控樣品要求	需使用CRM納米二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（如NIST RM 8027）校準(zhǔn)儀器。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	樣品前處理需超聲分散至無(wú)團(tuán)聚；BET檢測(cè)需脫氣處理≥4小時(shí)。
特別說(shuō)明	DLS測(cè)試時(shí)需控制溫度波動(dòng)≤±0.5℃，避免布朗運(yùn)動(dòng)速率影響結(jié)果。

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