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當(dāng)前位置： 首頁 實驗耗材 分析儀器耗材 紅外光譜儀 美國PerkinElmer(PE)貨號：L1860268 產(chǎn)品名稱：IR耗材 Ge Spare Crystal with Holder(鍺備用晶體帶支架/鍺晶體)/Minor Accessory
美國PerkinElmer(PE)貨號：L1860268 產(chǎn)品名稱：IR耗材 Ge Spare Crystal with Holder(鍺備用晶體帶支架/鍺晶體)/Minor Accessory_
圖片僅供參考，具體產(chǎn)品以實物為準(zhǔn)！

美國PerkinElmer(PE)貨號：L1860268 產(chǎn)品名稱：IR耗材 Ge Spare Crystal with Holder(鍺備用晶體帶支架/鍺晶體)/Minor Accessory

L1860268 Ge Spare Crystal with Holder {{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨詢'}} ￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨詢 見詳情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
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美國PerkinElmer(PE)貨號：L1860268 產(chǎn)品名稱：IR耗材 Ge Spare Crystal with Holder(鍺備用晶體帶支架/鍺晶體)介紹：

IR耗材 Ge Spare Crystal with Holder 產(chǎn)品描述

基本信息

  • 品牌：PerkinElmer（珀金埃爾默）
  • 貨號：L1860268
  • 產(chǎn)品名稱：Ge Spare Crystal with Holder（鍺備用晶體帶支架）
  • 適用儀器：PerkinElmer Spectrum Two/Frontier系列紅外光譜儀
  • 原產(chǎn)地：美國原裝進(jìn)口

產(chǎn)品特性

  • 高透光性：采用高純度鍺晶體材料，在紅外光譜范圍內(nèi)具有優(yōu)異的光學(xué)性能。
  • 模塊化設(shè)計：集成預(yù)裝支架結(jié)構(gòu)，支持快速更換，減少設(shè)備停機(jī)時間。
  • 精準(zhǔn)匹配：專為PerkinElmer光譜儀定制，確保光路對齊精度。
  • 耐腐蝕性：可耐受常見有機(jī)溶劑及化學(xué)腐蝕性環(huán)境。

應(yīng)用領(lǐng)域

  • 材料科學(xué)：高分子材料、納米材料的結(jié)構(gòu)分析
  • 制藥行業(yè)：藥物活性成分（API）的定性定量檢測
  • 環(huán)境監(jiān)測：水體、土壤中有機(jī)污染物的紅外光譜鑒定
  • 食品安全：食品添加劑及非法成分的快速篩查

產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 原廠品質(zhì)：通過PerkinElmer嚴(yán)格質(zhì)檢，性能與設(shè)備高度兼容
  • 高效維護(hù)：即插即用設(shè)計，簡化光譜儀維護(hù)流程
  • 成本優(yōu)化：延長核心光學(xué)部件使用壽命，降低長期使用成本
  • 數(shù)據(jù)可靠性：保障光譜采集穩(wěn)定性，減少實驗誤差

典型應(yīng)用場景

  • 化學(xué)實驗室：用于反應(yīng)中間體的原位紅外監(jiān)測
  • 質(zhì)檢機(jī)構(gòu)：工業(yè)原料的批次一致性驗證

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本公司銷售的所有產(chǎn)品僅供實驗科研使用，不用于人體及臨床診斷。
國家標(biāo)準(zhǔn)解讀：《紅外光譜分析方法通則》
標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號 GB/T 6040-2019《紅外光譜分析方法通則》
適用范圍 適用于固體、液體和氣體樣品的紅外光譜定性及定量分析，包含透射法、衰減全反射（ATR）等檢測技術(shù)。
核心檢測方法 明確使用鍺晶體作為ATR附件的關(guān)鍵部件，要求樣品與晶體表面接觸后通過紅外光反射進(jìn)行光譜采集。
檢出限與定量限 檢出限取決于樣品性質(zhì)和儀器靈敏度，通常為0.1%~1%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)）；定量限需通過標(biāo)準(zhǔn)曲線或信噪比確定。
質(zhì)控樣品要求 需使用已知光譜特征的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（如聚苯乙烯薄膜）進(jìn)行儀器性能驗證，并定期檢查晶體表面清潔度。
關(guān)鍵實驗步驟 1. 樣品均勻涂布于鍺晶體表面；
2. 調(diào)節(jié)壓力確保緊密接觸；
3. 設(shè)置紅外光譜掃描參數(shù)（如分辨率≥4 cm?1）。
特別說明 鍺晶體需定期用異丙醇清潔，避免劃傷；高吸光度樣品可能需減少接觸時間以防止晶體損傷。
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)解讀：JJG 681-2005《傅里葉變換紅外光譜儀檢定規(guī)程》
標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號 JJG 681-2005《傅里葉變換紅外光譜儀檢定規(guī)程》
適用范圍 規(guī)范傅里葉變換紅外光譜儀（含ATR附件）的性能檢定要求，適用于實驗室儀器校準(zhǔn)。
核心檢測方法 要求使用聚苯乙烯標(biāo)準(zhǔn)片檢測波數(shù)準(zhǔn)確性和分辨率，鍺晶體需通過能量通量測試驗證光學(xué)性能。
檢出限與定量限 不直接規(guī)定限值，但要求信噪比≥100:1（4 cm?1分辨率下，1分鐘掃描）。
質(zhì)控樣品要求 必須使用經(jīng)認(rèn)證的聚苯乙烯標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，保存環(huán)境需符合濕度≤60%、溫度20±5℃。
關(guān)鍵實驗步驟 1. 開機(jī)預(yù)熱1小時后進(jìn)行基線校準(zhǔn)；
2. 標(biāo)準(zhǔn)片需覆蓋整個晶體檢測區(qū)域；
3. 重復(fù)測量3次取平均值。
特別說明 檢定周期不超過12個月，更換鍺晶體后需重新進(jìn)行波數(shù)準(zhǔn)確性驗證。

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