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當(dāng)前位置： 首頁(yè) 實(shí)驗(yàn)耗材 分析儀器耗材 紅外光譜儀 美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：L1272131 產(chǎn)品名稱：IR耗材 Miracle SR ATR Ge Top Plate(Miracle Ge Top Plate/理化分析儀用萬(wàn)能光學(xué)平臺(tái))/Minor Accessory
美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：L1272131 產(chǎn)品名稱：IR耗材 Miracle SR ATR Ge Top Plate(Miracle Ge Top Plate/理化分析儀用萬(wàn)能光學(xué)平臺(tái))/Minor Accessory_
圖片僅供參考，具體產(chǎn)品以實(shí)物為準(zhǔn)！

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L1272131 Miracle SR ATR Ge Top Plate {{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨詢'}} ￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨詢 見(jiàn)詳情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
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PerkinElmer IR耗材 Miracle SR ATR Ge Top Plate

一、基本信息

  • 貨號(hào)：L1272131
  • 產(chǎn)品名稱：Miracle Ge Top Plate
  • 廠商：美國(guó)PerkinElmer（PE）
  • 適用儀器：理化分析儀
  • 類型：紅外光譜（IR）耗材
  • 庫(kù)存狀態(tài)：現(xiàn)貨供應(yīng)

二、產(chǎn)品特性

  • 材質(zhì)：高純度鍺（Ge）晶體，提供優(yōu)異紅外透射性能
  • 設(shè)計(jì)：單次反射ATR（衰減全反射）技術(shù)，支持微量樣品檢測(cè)
  • 兼容性：適配PerkinElmer系列光譜儀及其他主流品牌設(shè)備
  • 耐用性：表面抗刮擦處理，延長(zhǎng)使用壽命

三、應(yīng)用領(lǐng)域

  • 制藥行業(yè)：原料藥及制劑成分分析
  • 環(huán)境監(jiān)測(cè)：水中污染物快速檢測(cè)
  • 化工材料：聚合物結(jié)構(gòu)表征
  • 食品安全：食品添加劑及非法添加物篩查

四、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

  • 高靈敏度：可檢測(cè)低至微克級(jí)樣品量
  • 操作便捷：無(wú)需復(fù)雜制樣，支持固體/液體直接檢測(cè)
  • 數(shù)據(jù)精確：提供穩(wěn)定可重復(fù)的光譜信號(hào)
  • 維護(hù)簡(jiǎn)單：支持快速清潔與安裝

五、典型應(yīng)用案例

  • 藥物研發(fā)：某藥企用于抗生素晶型結(jié)構(gòu)分析，優(yōu)化生產(chǎn)工藝
  • 環(huán)境檢測(cè)：環(huán)保機(jī)構(gòu)檢測(cè)水體中微塑料污染物分布
  • 化工質(zhì)檢：橡膠制品企業(yè)快速鑒別原材料純度

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本公司銷售的所有產(chǎn)品僅供實(shí)驗(yàn)科研使用，不用于人體及臨床診斷。
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《紅外光譜分析方法通則》
標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號(hào) GB/T 32198-2015《紅外光譜分析方法通則》
適用范圍 適用于固體、液體、薄膜等樣品的紅外光譜分析，包含ATR（衰減全反射）等附件技術(shù)要求。
核心檢測(cè)方法 ATR法：通過(guò)測(cè)量樣品與Ge晶體界面的全反射衰減信號(hào)，獲取表面成分信息，適用于不透明或高吸收樣品。
檢出限與定量限 檢出限為0.1%質(zhì)量分?jǐn)?shù)（多數(shù)有機(jī)物），定量限為0.5%質(zhì)量分?jǐn)?shù)，受樣品均勻性和晶體接觸效果影響。
質(zhì)控樣品要求 需使用標(biāo)準(zhǔn)聚苯乙烯薄膜驗(yàn)證儀器分辨率和波數(shù)準(zhǔn)確性；樣品表面需平整，與Ge晶體緊密接觸。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟 1. 清潔Ge晶體表面；
2. 樣品均勻覆蓋晶體；
3. 調(diào)整壓力確保光學(xué)接觸；
4. 采集背景及樣品光譜。
特別說(shuō)明 Ge晶體易碎，禁止測(cè)試硬度高于6莫氏硬度的樣品；測(cè)試后需用異丙醇清潔，避免殘留物影響后續(xù)檢測(cè)。

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