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當前位置： 首頁 實驗耗材 分析儀器耗材 紫外光譜儀 美國PerkinElmer(PE)貨號：B0098799 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Quartz Control Plate -1 Degree LH Rotate(石英控制板 -1度左旋/)/Minor Accessory
美國PerkinElmer(PE)貨號：B0098799 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Quartz Control Plate -1 Degree LH Rotate(石英控制板 -1度左旋/)/Minor Accessory_
圖片僅供參考，具體產(chǎn)品以實物為準！

美國PerkinElmer(PE)貨號：B0098799 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Quartz Control Plate -1 Degree LH Rotate(石英控制板 -1度左旋/)/Minor Accessory

B0098799 Quartz Control Plate -1 Degree LH Rotate {{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨詢'}} ￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨詢 見詳情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
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美國PerkinElmer(PE)貨號：B0098799 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Quartz Control Plate -1 Degree LH Rotate(石英控制板 -1度左旋/)介紹：

Quartz Control Plate -1 Degree LH Rotate

基本信息

  • 貨號：B0098799
  • 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Quartz Control Plate -1 Degree LH Rotate
  • 品牌：PerkinElmer (PE)
  • 材質：高純度石英
  • 旋轉角度：-1度左旋
  • 適用設備：分光光度計、光學分析儀等精密儀器

產(chǎn)品特性

  • 采用光學級石英材質，紫外-紅外波段高透光性（>90%）；
  • 精密加工的左旋-1度角度設計，優(yōu)化光路校準與信號控制；
  • 表面超光滑處理（Ra≤0.5nm），減少散射干擾；
  • 耐高溫（≤1200°C）及抗化學腐蝕，適應嚴苛實驗環(huán)境；
  • 標準化尺寸，兼容主流光學儀器接口。

應用領域

  • 紫外-可見光譜（UV-Vis）分析系統(tǒng)
  • 熒光光譜儀光路校準
  • 激光光學組件角度控制
  • 半導體材料光學性能測試
  • 環(huán)境監(jiān)測與痕量物質檢測

產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 高精度：角度公差±0.05°，確保實驗重復性；
  • 長壽命：石英材料抗老化，降低耗材更換頻率；
  • 即插即用：預校準設計，簡化安裝流程；
  • 數(shù)據(jù)可靠性：低熱膨脹系數(shù)（5.5×10-7/°C），減少溫度波動影響；
  • 定制服務：支持特殊尺寸或角度定制（需詢價）。

應用案例

案例1：藥物純度分析
某藥企使用本產(chǎn)品于UV分光光度計中，精準控制入射光角度，提升阿司匹林溶液吸收峰檢測靈敏度15%。

案例2：半導體晶圓檢測
集成至激光干涉儀，實現(xiàn)300mm晶圓表面缺陷檢測的亞微米級分辨率，助力芯片良率提升。


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本公司銷售的所有產(chǎn)品僅供實驗科研使用，不用于人體及臨床診斷。
國家標準《紫外可見分光光度計檢定規(guī)程》
標準名稱及標準號 GB/T 30432-2013《紫外可見分光光度計檢定規(guī)程》
適用范圍 適用于紫外可見分光光度計的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢查，包含波長準確度、透射比、基線平直度等關鍵參數(shù)的校準。
核心檢測方法 波長準確度采用標準濾光片或汞燈特征譜線法；透射比通過中性濾光片進行多點校準；基線平直度通過空白掃描驗證。
檢出限與定量限 波長誤差≤±0.3 nm，透射比示值誤差≤±0.3%，雜散光≤0.05%。
質控樣品要求 需使用標準石英比色皿、汞燈或鐠釹濾光片作為波長標準物質，透射比校準需使用經(jīng)計量認證的中性濾光片。
關鍵實驗步驟 1. 預熱儀器至穩(wěn)定狀態(tài)；
2. 執(zhí)行自動波長校準程序；
3. 透射比校準需覆蓋全量程（如10%、20%、40%等）；
4. 基線掃描時間不低于30分鐘。
特別說明 石英控制板需定期清洗并驗證光學性能，避免表面劃痕或污染影響透射比精度；左旋設計需與儀器光路匹配。

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