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當(dāng)前位置： 首頁 實(shí)驗(yàn)耗材 分析儀器耗材 紫外光譜儀 美國PerkinElmer(PE)貨號：B0137314 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Variable Angle Reflectance Accessory(可變角反射附件/理化分析儀用反射附件)/Minor Accessory
美國PerkinElmer(PE)貨號：B0137314 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Variable Angle Reflectance Accessory(可變角反射附件/理化分析儀用反射附件)/Minor Accessory_
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美國PerkinElmer(PE)貨號：B0137314 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Variable Angle Reflectance Accessory(可變角反射附件/理化分析儀用反射附件)/Minor Accessory

B0137314 Variable Angle Reflectance Accessory {{goodObj.price > 0 ? '￥' + goodObj.price : '咨詢'}} ￥{{goodObj.sell_price || 0}} 咨詢 見詳情 {{goodObj.date}} PerkinElmer(PE) {{item.norm}} / {{inventory}}
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美國PerkinElmer(PE)貨號：B0137314 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Variable Angle Reflectance Accessory(可變角反射附件/理化分析儀用反射附件)介紹：

PerkinElmer UVS可變角反射附件（B0137314）

一、基本信息

  • 貨號：B0137314
  • 產(chǎn)品名稱：Variable Angle Reflectance Accessory（可變角反射附件）
  • 品牌：美國PerkinElmer（珀金埃爾默）
  • 適用設(shè)備：理化分析儀及光譜儀配套使用
  • 供貨周期：現(xiàn)貨供應(yīng)

二、產(chǎn)品特性

  • 支持0°-90°入射角連續(xù)可調(diào)，適配多種樣品形態(tài)分析需求
  • 采用高精度光學(xué)組件，確保反射率測量準(zhǔn)確性
  • 模塊化設(shè)計，兼容主流PerkinElmer光譜儀器型號
  • 耐腐蝕材質(zhì)構(gòu)造，適用于化學(xué)實(shí)驗(yàn)室嚴(yán)苛環(huán)境

三、應(yīng)用領(lǐng)域

  • 材料表面反射特性研究
  • 薄膜厚度與光學(xué)常數(shù)測定
  • 半導(dǎo)體晶圓涂層分析
  • 生物傳感器表面修飾檢測

四、產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 原廠精密制造，與PE設(shè)備無縫兼容
  • 角度調(diào)節(jié)分辨率達(dá)±0.1°，滿足科研級精度要求
  • 免校準(zhǔn)即插即用設(shè)計，顯著提升實(shí)驗(yàn)效率
  • 提供標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)接口，支持自動化流程整合

五、典型應(yīng)用案例

  • 光伏行業(yè)：太陽能電池抗反射涂層優(yōu)化
  • 電子制造：OLED顯示面板多層膜結(jié)構(gòu)分析
  • 科研院所：新型二維材料光學(xué)特性表征
  • 質(zhì)檢機(jī)構(gòu)：汽車金屬鍍層耐候性檢測

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本公司銷售的所有產(chǎn)品僅供實(shí)驗(yàn)科研使用，不用于人體及臨床診斷。
GB/T 33252-2016 納米技術(shù) 納米材料紫外-可見漫反射光譜測試方法
標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號GB/T 33252-2016 納米技術(shù) 納米材料紫外-可見漫反射光譜測試方法
適用范圍適用于納米材料在紫外-可見光范圍內(nèi)（200-800 nm）的漫反射光譜測定，用于表征材料的光學(xué)性能及表面特性。
核心檢測方法采用可變角反射附件測定樣品在不同入射角度下的反射光譜，結(jié)合積分球或漫反射裝置獲取漫反射率數(shù)據(jù)。
檢出限與定量限檢出限為反射率變化≥0.5%，定量限為反射率變化≥1%（信噪比≥10）。
質(zhì)控樣品要求需使用標(biāo)準(zhǔn)反射板（如硫酸鋇或聚四氟乙烯）進(jìn)行儀器校準(zhǔn)，質(zhì)控樣品反射率誤差應(yīng)≤±2%。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟1. 設(shè)置反射角度（通常5°-80°）
2. 采集背景光譜并扣除
3. 測量樣品反射光譜并計算Kubelka-Munk函數(shù)
特別說明入射角度選擇需根據(jù)樣品表面粗糙度調(diào)整，納米材料建議采用10°-30°低角度以避免鏡面反射干擾。
傅里葉變換紅外光譜儀
標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號GB/T 21186-2007 傅里葉變換紅外光譜儀
適用范圍規(guī)范傅里葉變換紅外光譜儀（含反射附件）的性能指標(biāo)及測試方法，適用于材料表面反射光譜分析。
核心檢測方法通過可變角反射附件獲取樣品表面反射紅外光譜，采用鏡面反射或掠角反射模式分析表面化學(xué)結(jié)構(gòu)。
檢出限與定量限檢出限為吸光度0.01 AU，定量限為吸光度0.05 AU（信噪比≥3）。
質(zhì)控樣品要求需定期使用聚苯乙烯薄膜標(biāo)準(zhǔn)片驗(yàn)證波數(shù)精度（誤差≤±4 cm?1）。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟1. 設(shè)置反射角度（推薦75°-85°）
2. 采集背景光譜
3. 測量樣品并優(yōu)化光路聚焦
特別說明高角度反射模式下需注意光程差校正，樣品表面平整度要求≤λ/4（λ=632.8 nm）。
GB/T 39489-2020 表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 可變角反射離子槍的校準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號GB/T 39489-2020 表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 可變角反射離子槍的校準(zhǔn)
適用范圍規(guī)范可變角離子槍在表面分析中的校準(zhǔn)方法，適用于反射式光學(xué)系統(tǒng)的角度標(biāo)定。
核心檢測方法采用激光干涉儀或標(biāo)準(zhǔn)角度樣品校準(zhǔn)反射附件的角度示值誤差，要求角度重復(fù)性≤0.1°。
檢出限與定量限角度分辨率≤0.5°，角度測量不確定度≤±0.3°（k=2）。
質(zhì)控樣品要求需使用經(jīng)認(rèn)證的角度標(biāo)準(zhǔn)片（如石英晶體角度標(biāo)準(zhǔn)器）進(jìn)行驗(yàn)證。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟1. 安裝激光校準(zhǔn)裝置
2. 測量實(shí)際反射角度與設(shè)定值偏差
3. 修正角度參數(shù)表
特別說明校準(zhǔn)周期建議每6個月或儀器移動后執(zhí)行，環(huán)境溫度需控制在23±2℃。

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