美國PerkinElmer(PE)貨號：L1200324 產(chǎn)品名稱：IR耗材 ZnSe Coated 45 Degree Trough Top-Plate(ZnSe鍍膜45度凹槽頂板/)/Minor Accessory_紅外光譜儀_分析儀器耗材_實(shí)驗(yàn)耗材_萘析商城

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美國PerkinElmer(PE)貨號：L1200324 產(chǎn)品名稱：IR耗材 ZnSe Coated 45 Degree Trough Top-Plate(ZnSe鍍膜45度凹槽頂板/)/Minor Accessory

L1200324

ZnSe Coated 45 Degree Trough Top-Plate

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PerkinElmer(PE)

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美國PerkinElmer(PE)貨號：L1200324 產(chǎn)品名稱：IR耗材 ZnSe Coated 45 Degree Trough Top-Plate(ZnSe鍍膜45度凹槽頂板/)介紹：

案例1：制藥片劑成分分析
某藥企使用該頂板對壓片藥品進(jìn)行ATR-FTIR檢測，5分鐘內(nèi)完成有效成分分布分析，避免傳統(tǒng)溶解法的溶劑干擾。

案例2：工業(yè)潤滑油氧化監(jiān)測
通過直接涂布潤滑油樣品，實(shí)時監(jiān)測高溫氧化產(chǎn)物的紅外特征峰變化，輔助設(shè)備維護(hù)決策。

案例3：聚合物薄膜厚度測量
結(jié)合光譜軟件，快速計算聚乙烯薄膜的厚度與結(jié)晶度，精度達(dá)±0.1μm，支持產(chǎn)線質(zhì)量控制。

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本公司銷售的所有產(chǎn)品僅供實(shí)驗(yàn)科研使用，不用于人體及臨床診斷。

國家標(biāo)準(zhǔn)《分子吸收光譜分析方法通則》

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號	GB/T 6040-2019 分子吸收光譜分析方法通則
適用范圍	適用于紅外光譜（包括ATR技術(shù)）在有機(jī)物、高分子材料及表面涂層的定性與定量分析。
核心檢測方法	基于衰減全反射（ATR）技術(shù)，利用ZnSe晶體作為反射介質(zhì)，通過測量樣品與晶體界面的全反射信號獲取紅外光譜數(shù)據(jù)。
檢出限與定量限	檢出限為0.1%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)），定量限為0.5%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)），具體取決于樣品類型和儀器性能。
質(zhì)控樣品要求	需使用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)（如聚苯乙烯薄膜）進(jìn)行儀器校準(zhǔn)，平行測定次數(shù)不少于3次，RSD應(yīng)≤5%。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	1. 清潔ZnSe晶體表面；2. 樣品均勻涂覆于晶體表面；3. 設(shè)置入射角為45度；4. 采集背景及樣品光譜。
特別說明	ZnSe晶體易被強(qiáng)酸/強(qiáng)堿腐蝕，測試后需立即清潔，避免劃痕影響光學(xué)性能。

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JJF 1319-2011《傅里葉變換紅外光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范》

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號	JJF 1319-2011 傅里葉變換紅外光譜儀校準(zhǔn)規(guī)范
適用范圍	規(guī)范傅里葉變換紅外光譜儀（含ATR附件）的波長準(zhǔn)確性、信噪比等性能校準(zhǔn)。
核心檢測方法	通過標(biāo)準(zhǔn)聚苯乙烯薄膜校準(zhǔn)波數(shù)精度，要求ATR附件的入射角偏差≤±0.5度。
檢出限與定量限	不適用（儀器性能校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)）。
質(zhì)控樣品要求	必須使用經(jīng)認(rèn)證的聚苯乙烯標(biāo)準(zhǔn)膜，厚度為35±5μm。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	1. 預(yù)熱儀器至穩(wěn)定狀態(tài)；2. 安裝ATR附件并調(diào)整入射角；3. 采集標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)光譜。
特別說明	校準(zhǔn)周期不超過12個月，更換ATR晶體或光學(xué)部件后需重新校準(zhǔn)。

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