美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：L1360254 產(chǎn)品名稱：IR耗材 ZnSe Crystal Spare Replacement(ZnSe晶體備用替換件/)/Minor Accessory_紅外光譜儀_分析儀器耗材_實(shí)驗(yàn)耗材_萘析商城

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美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：L1360254 產(chǎn)品名稱：IR耗材 ZnSe Crystal Spare Replacement(ZnSe晶體備用替換件/)/Minor Accessory

L1360254

ZnSe Crystal Spare Replacement

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PerkinElmer(PE)

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國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《紅外光譜分析方法通則》解讀

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號(hào)	GB/T 6040-2019《紅外光譜分析方法通則》
適用范圍	適用于固體、液體、氣體樣品的紅外光譜定性及定量分析，包含ZnSe晶體等衰減全反射（ATR）附件的使用規(guī)范。
核心檢測(cè)方法	規(guī)定紅外光譜儀的校準(zhǔn)、樣品制備（如壓片法、涂膜法、ATR法）、光譜掃描參數(shù)（分辨率≥4 cm?1）、背景校正及數(shù)據(jù)處理方法。
檢出限與定量限	檢出限取決于樣品性質(zhì)及儀器性能，常規(guī)有機(jī)物定量限為0.1%-1%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)），ATR模式受晶體材料（如ZnSe）穿透深度影響。
質(zhì)控樣品要求	需使用標(biāo)準(zhǔn)聚苯乙烯薄膜驗(yàn)證波數(shù)準(zhǔn)確性（偏差≤±4 cm?1），定期檢查能量穩(wěn)定性（信噪比≥10000:1）。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	1. 晶體表面清潔（異丙醇擦拭）；2. 樣品與晶體緊密接觸；3. 掃描前扣除背景；4. 光譜采集重復(fù)3次以上。
特別說(shuō)明	ZnSe晶體適用pH 5-9環(huán)境，禁止接觸強(qiáng)酸、強(qiáng)氧化性物質(zhì)，使用溫度需低于60℃以防晶格損傷。

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JJG 681-2020《傅里葉變換紅外光譜儀檢定規(guī)程》解讀

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號(hào)	JJG 681-2020《傅里葉變換紅外光譜儀檢定規(guī)程》
適用范圍	適用于配備ATR附件（含ZnSe晶體）的紅外光譜儀性能驗(yàn)證，包括波數(shù)準(zhǔn)確性、分辨率、信噪比等指標(biāo)。
核心檢測(cè)方法	要求使用聚苯乙烯標(biāo)準(zhǔn)片在4000-400 cm?1范圍內(nèi)檢定波數(shù)重復(fù)性（RSD≤0.05%），基線平直度（≤1%透過(guò)率波動(dòng)）。
質(zhì)控樣品要求	必須使用國(guó)家計(jì)量院認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（如GBW(E)130035聚苯乙烯膜）進(jìn)行周期性校準(zhǔn)。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	1. 預(yù)熱儀器≥2小時(shí)；2. 標(biāo)準(zhǔn)片與ATR晶體接觸壓力需恒定（推薦50±5 N）；3. 采集數(shù)據(jù)前除濕處理。

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《質(zhì)譜分析方法通則》關(guān)聯(lián)解讀

特別說(shuō)明

當(dāng)紅外光譜與質(zhì)譜聯(lián)用時(shí)，需按本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范樣品前處理流程，確保ZnSe晶體表面殘留物不影響后續(xù)分析。

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