美國PerkinElmer(PE)貨號：L1201033 產(chǎn)品名稱：IR耗材 Dewar Cap(杜瓦蓋/)/Minor Accessory_紅外光譜儀_分析儀器耗材_實驗耗材_萘析商城

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美國PerkinElmer(PE)貨號：L1201033 產(chǎn)品名稱：IR耗材 Dewar Cap(杜瓦蓋/)/Minor Accessory

L1201033

Dewar Cap

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PerkinElmer(PE)

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本公司銷售的所有產(chǎn)品僅供實驗科研使用，不用于人體及臨床診斷。

國家標(biāo)準(zhǔn) 《紅外光譜分析方法通則》

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號	GB/T 6040-2019 《紅外光譜分析方法通則》
適用范圍	適用于紅外光譜法對固體、液體、氣體樣品的定性與定量分析，包含儀器校準(zhǔn)、樣品制備及數(shù)據(jù)處理要求。

核心檢測方法

采用透射法或衰減全反射法（ATR），通過紅外光與樣品分子振動能級相互作用獲取特征吸收譜圖，比對標(biāo)準(zhǔn)譜庫實現(xiàn)定性分析。

檢出限與定量限

檢出限為0.1%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)），定量限為0.5%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)），具體值需根據(jù)樣品類型及儀器性能調(diào)整。

質(zhì)控樣品要求

需使用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRM）進(jìn)行儀器校準(zhǔn)及方法驗證，樣品需均勻、干燥，避免吸濕或污染干擾譜圖。

關(guān)鍵實驗步驟

1. 樣品前處理（研磨、壓片或涂膜）；
2. 儀器預(yù)熱與背景掃描；
3. 樣品掃描（分辨率≥4 cm?1，掃描次數(shù)≥32次）；
4. 譜圖基線校正與峰位標(biāo)定。

特別說明	使用杜瓦蓋等耗材時需確保密封性，防止液氮揮發(fā)導(dǎo)致檢測器性能下降；實驗后需清潔接觸面避免交叉污染。

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