美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：PELA9040 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Powder Sample Holder(粉末樣品支架或粉末樣品夾/塑料制夾具)/Minor Accessory_紫外光譜儀_分析儀器耗材_實(shí)驗(yàn)耗材_萘析商城

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美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：PELA9040 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Powder Sample Holder(粉末樣品支架或粉末樣品夾/塑料制夾具)/Minor Accessory

PELA9040

Powder Sample Holder

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PerkinElmer(PE)

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美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：PELA9040 產(chǎn)品名稱：UVS耗材 Powder Sample Holder(粉末樣品支架或粉末樣品夾/塑料制夾具)介紹：

藥物研發(fā)：某藥企使用本支架完成10種仿制藥原料的XRD一致性評(píng)價(jià)，數(shù)據(jù)重復(fù)性RSD＜0.8%
材料科學(xué)：高校實(shí)驗(yàn)室通過配套UVS系統(tǒng)，成功檢測(cè)納米氧化鋅粉末的紫外吸收特性，發(fā)表SCI論文2篇

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實(shí)驗(yàn)室粉末樣品制備方法

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號(hào)	GB/T 30432-2013《實(shí)驗(yàn)室粉末樣品制備方法》
適用范圍	適用于實(shí)驗(yàn)室中粉末樣品的制備、裝填及保存，涵蓋金屬、非金屬及復(fù)合材料粉末的標(biāo)準(zhǔn)化處理流程。
核心檢測(cè)方法	采用粉末壓片法（壓力范圍5-15MPa）保證樣品均勻性，結(jié)合光譜分析技術(shù)進(jìn)行后續(xù)檢測(cè)。
檢出限與定量限	檢出限為0.1μg/g，定量限為0.3μg/g（需結(jié)合具體檢測(cè)儀器性能）。
質(zhì)控樣品要求	質(zhì)控樣品需滿足粒徑分布（D50≤50μm）、均勻性（RSD≤5%）及穩(wěn)定性（保存期≤6個(gè)月）要求。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	樣品干燥（105℃±5℃恒溫2h）、過篩（200目標(biāo)準(zhǔn)篩）、裝填（使用專用夾具固定后壓片）。
特別說明	禁止直接用手接觸樣品表面，需在濕度≤30%RH環(huán)境下操作以避免吸潮影響檢測(cè)結(jié)果。

原子吸收光譜分析方法通則

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號(hào)	GB/T 21187-2007《原子吸收光譜分析方法通則》
適用范圍	適用于采用原子吸收光譜法檢測(cè)粉末樣品中金屬元素含量，包括固體直接進(jìn)樣和溶液進(jìn)樣兩種模式。
核心檢測(cè)方法	火焰原子化法（空氣-乙炔火焰）或石墨爐原子化法（升溫程序需優(yōu)化），特征譜線強(qiáng)度定量。
檢出限與定量限	火焰法：檢出限0.01-0.1mg/L，定量限0.03-0.3mg/L；石墨爐法：檢出限0.1-1μg/L，定量限0.3-3μg/L。
質(zhì)控樣品要求	基體匹配標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（CRM），每批次測(cè)試需包含空白樣、平行樣及加標(biāo)回收樣（回收率80-120%）。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	樣品消解（微波消解溫度≥180℃）、背景校正（氘燈或塞曼效應(yīng)）、標(biāo)準(zhǔn)曲線繪制（R2≥0.995）。
特別說明	使用粉末支架時(shí)需確保樣品表面平整度（起伏≤0.1mm），避免光散射導(dǎo)致吸光度異常。

實(shí)驗(yàn)室紫外-可見分光光度計(jì)

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號(hào)	GB/T 30431-2013《實(shí)驗(yàn)室紫外-可見分光光度計(jì)》
適用范圍	規(guī)范紫外-可見分光光度計(jì)在粉末樣品反射率、吸光度等光學(xué)參數(shù)檢測(cè)中的技術(shù)要求。
核心檢測(cè)方法	漫反射法（積分球附件）或鏡面反射法（固定角度探頭），波長(zhǎng)范圍190-900nm。
檢出限與定量限	吸光度檢出限0.001Abs（噪聲水平≤0.0005Abs），定量下限0.003Abs。
質(zhì)控樣品要求	使用NIST標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)SRM 2036進(jìn)行波長(zhǎng)準(zhǔn)確性驗(yàn)證（偏差≤±0.5nm）。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	基線校正（空支架背景掃描）、樣品掃描（分辨率1nm）、數(shù)據(jù)平滑（Savitzky-Golay算法）。
特別說明	粉末支架需定期清潔（無水乙醇超聲處理10min），避免殘留樣品引起交叉污染。

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