美國PerkinElmer(PE)貨號：L1272452 產(chǎn)品名稱：IR耗材 VeeMax Flat Plate Ge 45 Degree(VeeMax 鍺平板 45 度/)/Minor Accessory_紅外光譜儀_分析儀器耗材_實驗耗材_萘析商城

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美國PerkinElmer(PE)貨號：L1272452 產(chǎn)品名稱：IR耗材 VeeMax Flat Plate Ge 45 Degree(VeeMax 鍺平板 45 度/)/Minor Accessory

L1272452

VeeMax Flat Plate Ge 45 Degree

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PerkinElmer(PE)

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美國PerkinElmer(PE)貨號：L1272452 產(chǎn)品名稱：IR耗材 VeeMax Flat Plate Ge 45 Degree(VeeMax 鍺平板 45 度/)介紹：

? 材料分析: 聚合物薄膜成分檢測、半導體材料表征

? 制藥行業(yè): 原料藥晶體結構分析、包衣層厚度測量

? 生命科學: 生物組織切片紅外成像輔助

? 工業(yè)質檢: 潤滑油降解產(chǎn)物快速篩查

案例1: 某藥企用于阿司匹林晶型轉化過程實時監(jiān)控，分辨率提升30%

案例2: 新能源實驗室在鋰電池電解質成分分析中實現(xiàn)ppm級檢測

案例3: 環(huán)境檢測機構完成大氣PM2.5表面有機物快速定性分析

以上信息僅供參考，請以實物批次為準！

本公司銷售的所有產(chǎn)品僅供實驗科研使用，不用于人體及臨床診斷。

國家標準解讀：《紅外光譜分析方法通則》

標準名稱及標準號	GB/T 6040-2019《紅外光譜分析方法通則》
適用范圍	適用于固體、液體、氣體樣品的紅外光譜定性及定量分析，包含使用鍺晶體平板的ATR（衰減全反射）技術。
核心檢測方法	ATR法：樣品直接接觸鍺晶體表面，通過全反射紅外光采集光譜信息，適用于不透明或高吸收性樣品。
檢出限與定量限	檢出限為0.1% (w/w)，定量限為0.5% (w/w)，具體取決于樣品基質和信號強度。
質控樣品要求	需使用標準物質（如聚苯乙烯薄膜）進行儀器校準；每批次測試至少包含1個空白對照和1個平行樣。
關鍵實驗步驟	1. 鍺晶體表面清潔；2. 樣品均勻涂布于晶體表面；3. 設置入射角為45度；4. 采集背景及樣品光譜。
特別說明	鍺晶體易受強酸/強堿腐蝕，測試后需立即清潔；ATR法不適用于粉末狀樣品直接測試。

行業(yè)標準解讀：JJG 681-2021《傅里葉變換紅外光譜儀檢定規(guī)程》

標準名稱及標準號	JJG 681-2021《傅里葉變換紅外光譜儀檢定規(guī)程》
適用范圍	針對傅里葉變換紅外光譜儀的性能驗證，包括波長精度、信噪比、分辨率等關鍵參數(shù)。
核心檢測方法	使用聚苯乙烯標準薄膜進行波長校準，通過峰位偏差評估儀器精度。
質控要求	檢定周期不超過12個月；信噪比需≥10000:1（4 cm?1分辨率下）。

相關標準：《傅里葉變換紅外光譜儀》

標準名稱及標準號	GB/T 21186-2007《傅里葉變換紅外光譜儀》
適用范圍	規(guī)定紅外光譜儀的技術要求、試驗方法及驗收規(guī)則，包含ATR附件的性能指標。
關鍵參數(shù)	波數(shù)范圍需覆蓋4000-400 cm?1；ATR附件重復性誤差≤2%。

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