美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：L1860322 產(chǎn)品名稱：IR耗材 ATR Arm Assembly(ATR Arm Assembly/)/Minor Accessory_紅外光譜儀_分析儀器耗材_實(shí)驗(yàn)耗材_萘析商城

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美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：L1860322 產(chǎn)品名稱：IR耗材 ATR Arm Assembly(ATR Arm Assembly/)/Minor Accessory

L1860322

ATR Arm Assembly

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PerkinElmer(PE)

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紅外光譜分析方法通則

適用范圍

適用于有機(jī)物、高分子材料及無(wú)機(jī)物的紅外光譜定性分析，包含ATR附件在內(nèi)的紅外光譜檢測(cè)技術(shù)。

核心檢測(cè)方法

采用衰減全反射（ATR）技術(shù)直接測(cè)試固體或液體樣品，無(wú)需制樣；通過(guò)特征吸收峰解析物質(zhì)結(jié)構(gòu)。

檢出限與定量限

檢出限：0.1%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)）；定量限：1%（需結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)曲線和信噪比≥10確認(rèn)）。

質(zhì)控樣品要求

需使用已知標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（如聚苯乙烯薄膜）驗(yàn)證儀器分辨率及波數(shù)準(zhǔn)確性，每日檢測(cè)前執(zhí)行基線校正。

關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟

1. 清潔ATR晶體（乙醇擦拭）；
2. 壓緊樣品確保與晶體充分接觸；
3. 設(shè)置掃描參數(shù)（分辨率4 cm?1，掃描次數(shù)32次）。

特別說(shuō)明

高折射率樣品可能降低ATR檢測(cè)靈敏度，需根據(jù)樣品類(lèi)型選擇晶體材質(zhì)（如ZnSe或金剛石）。

紅外光譜分析術(shù)語(yǔ)

適用范圍

規(guī)范紅外光譜分析技術(shù)相關(guān)術(shù)語(yǔ)，包含ATR、透射法等檢測(cè)模式的明確定義。

核心檢測(cè)方法

定義ATR技術(shù)中臨界角、穿透深度等關(guān)鍵參數(shù)的計(jì)算方法，指導(dǎo)實(shí)驗(yàn)條件優(yōu)化。

實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制規(guī)范

適用范圍

規(guī)定紅外光譜檢測(cè)的質(zhì)控要求，包含儀器校準(zhǔn)、環(huán)境溫濕度控制（23±5℃，濕度≤60%）。

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