美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：L1200323 產(chǎn)品名稱：IR耗材 ZnSe Coated 45 Degree Flat Top-Plate(ZnSe 涂層45度平頂板/)/Minor Accessory_紅外光譜儀_分析儀器耗材_實(shí)驗(yàn)耗材_萘析商城

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美國(guó)PerkinElmer(PE)貨號(hào)：L1200323 產(chǎn)品名稱：IR耗材 ZnSe Coated 45 Degree Flat Top-Plate(ZnSe 涂層45度平頂板/)/Minor Accessory

L1200323

ZnSe Coated 45 Degree Flat Top-Plate

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PerkinElmer(PE)

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國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)解讀：《紅外光譜分析方法通則》

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號(hào)	GB/T 6040-2019《紅外光譜分析方法通則》
適用范圍	適用于固體、液體、氣體樣品的紅外光譜定性及定量分析，包含使用ZnSe等ATR附件進(jìn)行表面或薄膜分析。
核心檢測(cè)方法	規(guī)定紅外光譜儀操作、ATR附件使用、背景扣除及樣品制備流程；強(qiáng)調(diào)通過(guò)特征吸收峰進(jìn)行物質(zhì)鑒別。
檢出限與定量限	檢出限通常為0.1%~1%（取決于樣品性質(zhì)），定量限需通過(guò)方法驗(yàn)證確定，建議使用標(biāo)準(zhǔn)曲線法。
質(zhì)控樣品要求	需定期使用聚苯乙烯薄膜校準(zhǔn)波數(shù)精度（±4 cm^-1以內(nèi)），并使用已知濃度樣品驗(yàn)證儀器穩(wěn)定性。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	1. 清潔ZnSe晶體表面 2. 施加樣品確保接觸均勻 3. 設(shè)定分辨率≥4 cm^-1采集數(shù)據(jù) 4. 分析前扣除空氣背景
特別說(shuō)明	ZnSe晶體易被強(qiáng)酸/堿性樣品腐蝕，測(cè)試后需立即用乙醇擦拭；不適用于高硬度或尖銳樣品。

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)解讀：GB/T 36764-2018《表面化學(xué)分析衰減全反射紅外光譜法通則》

標(biāo)準(zhǔn)名稱及標(biāo)準(zhǔn)號(hào)	GB/T 36764-2018《表面化學(xué)分析衰減全反射紅外光譜法通則》
適用范圍	專門針對(duì)ATR技術(shù)對(duì)固體/液體表面及薄膜的紅外光譜分析，明確ZnSe等晶體材料的適用場(chǎng)景。
核心檢測(cè)方法	規(guī)定ATR附件的參數(shù)設(shè)置（入射角、壓力）、樣品接觸面積控制及深度滲透校正方法。
質(zhì)控樣品要求	需使用厚度≤1 μm的聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）薄膜驗(yàn)證ATR附件的穿透深度重復(fù)性。
關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)步驟	1. 選擇45°入射角匹配樣品折射率 2. 施加恒定壓力避免晶體損傷 3. 采集≥32次掃描提高信噪比
特別說(shuō)明	ZnSe晶體的有效檢測(cè)深度為0.5~2 μm，需根據(jù)樣品光學(xué)性質(zhì)校正光譜數(shù)據(jù)。

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